X-IŞINI FLORESANS SPEKTROMETRESİ (XRF) 

X-ışını floresans spektrometresi, genel olarak foton-madde etkileşmesi sonucu meydana gelen karakteristik X-ışınları ve saçılma fotonlarının nicel ve nitel değerlendirilmesinde kullanılır.

ARUM laboratuvarı X-ışınları bölümünde Panalytical ZETIUM marka XRF cihazı bulunmaktadır.  Birimimizdeki XRF sistemi; analiz edilen örnekten elde edilen X-ışınlarının enerjisini hesaplayarak elementleri tayin ederken gelen ışınları da sayarak element miktarlarının belirlenmesini sağlar. Hızlı ve duyarlı olması, az örnek gerektirmesi, kullanım kolaylığı ve malzemeye zarar vermeme özellikleri göz önüne alındığında teknolojik ve bilimsel araştırmalarda önemlidir. Bu sistem, katı (mineral, metal, kayaç, toprak), sıvı (su, yağ, petrol ürünleri) ve preslenmiş toz gibi farklı formlardaki numunelerde ağır metal konsantrasyonlarını (Na-U element aralığında) yüzdelik (%) ve milyonda birlik (ppm) cinsinden yarı kantitatif olarak analiz edilmesine olanak sağlar. Uygun standart malzemeler kullanılarak tam niceliksel analiz ppm mertebesinden yüzdelik seviyesine kadar gerçekleştirilebilir.

XRF sisteminde hassas kantitatif analizlerin yapılabilmesi için 21 adet standart içeren (Al₂O₃, BaO, CaO, Cr₂O₃, CuO, Fe₂O₃, HfO₂, K₂O, MgO, Mn₂O₃, Na₂O, NiO, P₂O₅, PbO, SiO₂, SO₃, SrO, TiO₂, V₂O₅, ZnO, ZrO) özel kalibrasyon seti kullanılmaktadır. Bu kalibrasyon programı ile oksitli bileşiklerin (mineral, çimento, cam sanayi, seramik hammadde vb.) ppm derecesinde gerçek kantitatif analizleri yapılabilmektedir.

Numune hazırlığında kullanılan eritiş cihazı ve pres makinası ile çok geniş bir çeşitlilikteki numunelerin analizleri gerçekleştirilebilmektedir.

 

XRF Cihazı: Panalytical Zetium

 

XRF ile yapılabilecek analizler;

Katı ve sıvı örneklerin elementel veya bileşik olarak kalitatif, yarı-kantitatif ve kantitatif analizleri.

 

 

X-IŞINI DİFRAKTOMETRESİ (XRD) 

X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristal faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar.

ARUM laboratuvarı X-ışınları bölümünde  Panalytical EMPYREAN marka XRD cihazı bulunmaktadır.  Birimimizdeki X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristal malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir. Cihazımızda 1200 ^oC’ye kadar atmosfer, vakum ve inert gaz ortamında kristal yapıdaki faz değişimlerini görmek mümkündür.

 

XRD Cihazı:  Panalytical Empyrian

 

XRD ile Yapılabilecek Analizler;

• Toz, katı ve ince film şeklindeki örneklerde fazlar,
• Fazların miktarı,
• Kristal boyutu,
• Latis parametreleri,
• Yapıdaki değişimler,
• Kristal yönlenmesi
• Atom pozisyonları hakkında bilgi verir.