X-IŞINI DİFRAKTOMETRESİ (XRD)
X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal fazın kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristal faz için bu kırınım profilleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar.
ARUM laboratuvarı X-ışınları bölümünde Panalytical EMPYREAN marka XRD cihazı bulunmaktadır. Birimimizdeki X-Işını Kırınım cihazıyla kayaçların, kristal malzemelerin, ince filmlerin ve polimerlerin nitel ve nicel incelemeleri yapılabilir. Cihazımızda 1200 oC’ye kadar atmosfer, vakum ve inert gaz ortamında kristal yapıdaki faz değişimlerini görmek mümkündür.
XRD Cihazı: Panalytical Empyrian
XRD ile Yapılabilecek Analizler;
- Toz, katı ve ince film şeklindeki örneklerde fazlar,
- Fazların miktarı,
- Kristal boyutu,
- Latis parametreleri,
- Yapıdaki değişimler,
- Kristal yönlenmesi
- Atom pozisyonları hakkında bilgi verir.
