X-IŞINI FLORESANS SPEKTROMETRESİ (XRF)
X-ışını floresans spektrometresi, genel olarak foton-madde etkileşmesi sonucu meydana gelen karakteristik X-ışınları ve saçılma fotonlarının nicel ve nitel değerlendirilmesinde kullanılır.
ARUM laboratuvarı X-ışınları bölümünde Panalytical ZETIUM marka XRF cihazı bulunmaktadır. Birimimizdeki XRF sistemi; analiz edilen örnekten elde edilen X-ışınlarının enerjisini hesaplayarak elementleri tayin ederken gelen ışınları da sayarak element miktarlarının belirlenmesini sağlar. Hızlı ve duyarlı olması, az örnek gerektirmesi, kullanım kolaylığı ve malzemeye zarar vermeme özellikleri göz önüne alındığında teknolojik ve bilimsel araştırmalarda önemlidir. Bu sistem, katı (mineral, metal, kayaç, toprak), sıvı (su, yağ, petrol ürünleri) ve preslenmiş toz gibi farklı formlardaki numunelerde ağır metal konsantrasyonlarını (Na-U element aralığında) yüzdelik (%) ve milyonda birlik (ppm) cinsinden yarı kantitatif olarak analiz edilmesine olanak sağlar. Uygun standart malzemeler kullanılarak tam niceliksel analiz ppm mertebesinden yüzdelik seviyesine kadar gerçekleştirilebilir.
XRF sisteminde hassas kantitatif analizlerin yapılabilmesi için 21 adet standart içeren (Al2O3, BaO, CaO, Cr2O3, CuO, Fe2O3, HfO2, K2O, MgO, Mn2O3, Na2O, NiO, P2O5, PbO, SiO2, SO3, SrO, TiO2, V2O5, ZnO, ZrO) özel kalibrasyon seti kullanılmaktadır. Bu kalibrasyon programı ile oksitli bileşiklerin (mineral, çimento, cam sanayi, seramik hammadde vb.) ppm derecesinde gerçek kantitatif analizleri yapılabilmektedir.
Numune hazırlığında kullanılan eritiş cihazı ve pres makinası ile çok geniş bir çeşitlilikteki numunelerin analizleri gerçekleştirilebilmektedir.
XRF Cihazı: Panalytical Zetium
XRF ile yapılabilecek analizler;
Katı ve sıvı örneklerin elementel veya bileşik olarak kalitatif, yarı-kantitatif ve kantitatif analizleri.
